HAST老化试验箱
  • 产品名称:

    HAST老化试验箱

  • 产品简介:

    高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁性材料行业、单层线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰 照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。

  • 全国服务热线:400-136-3637
产品详情
型 号ZC-PCT-30ZC-PCT-40可按要求非标定做
内部尺寸
Φ×D(mm)
Φ300×D500Φ400×D550
温度控制升温时间:常温 →+ 132℃ 55 min   温度范围:100℃→+132℃. (控制点) 
温度波动度:±0.5℃.  温度偏差:±2.0℃.
湿度范围100%R.H饱和蒸汽
压力范围0.5~2㎏/㎝2  (控制点)
升压时间常压 →+ 2㎏/㎝2   60 min.
湿度均匀度±5.0%.
控制器进口触摸屏微电脑彩色液晶显示触控式莹幕直接按键型,中英文表示之广视角,高对比功能可程式控制器,具30组程序记忆,每段540Hour59Min,可任意分割设定,并附多组PID控制功能.
保护装置可调式超温保护   压力超压保护    压力超限第二重保护  温度超限报警保护  缺水保护
样品架有承重5kg/层,10kg/层,20kg/层(箱内样品架累计总承载不超过50kg)



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